LDDは、各溶接前、溶接中、溶接後のすべての部品について、リアルタイムのデータを記録し、通信します。プロセスの劣化や
溶接不良が発生した場合、LDDはオペレーターやシステムに警告を発し、是正措置を講じます。このインテリジェントなプロセス監視により、通常業務が
迅速に再開され、製造パイプラインで良品のみが移動することが保証されます。
直接溶接測定
100%の品質保証
リアルタイム・モニタリング
溶接レーザと同じ光学系を通して発射される低出力ビームを利用するLDDは、高精度の100%品質保証のために、溶接が行われるたびにすべての溶接を測定する。
溶接溶け込みとその他20以上の溶接特性を直接、幾何学的に測定することで、部品を破壊することなく、破壊的断面に匹敵するデータを即座に得ることができます。
レーザー溶接を最大限に活用する
材料が一貫した表面品質、清浄度、および部品に適合する厳しい公差を持つ場合、レーザ溶接は非常に安定した再現性の高いプロセスであり、数百万回の溶接で高品質の結果を得ることができます。しかし、部品の特性や位置が予期せず変化した場合、欠陥のある溶接になる可能性があります。たった1つの規格外の溶接が、そうでなければ高品質の製品の機能や外観を損なうのに十分な場合があります。
後工程の試験や品質保証の方法は、多くの場合、時間がかかり、破壊的で、完全なデータを提供できないため、メーカーは追加コストを受け入れるか、受け入れられない製品を出荷するリスクを余儀なくされます。LDDは特許取得済みのインライン・コヒーレント・イメージング(ICI)技術を使用し、不正確な視覚フィードバックに頼るのではなく、すべての溶接の直接溶接測定を提供します。このオールインワン溶接測定ツールは、IPG レーザおよびビーム伝送とシームレスに統合され、最も要求の厳しい産業品質保証問題のソリューションを提供します。
全工程溶接検査
溶接深さ
溶接深さを直接測定することで、溶け込み不足や溶け込み過多が接合部の強度や電気的性能を損なわないようにします。
シーム位置
溶接の前方をスキャンし、部品のアライメントと溶接経路を確認することで、必要に応じて自動的にシームを再調整することができます。
横断プロファイル
溶接継ぎ目のビード幅と形状を測定すること で、継ぎ目の仕上がりの弱さを示す過充填、過充 填、端部のアンダーカットを検出することができ る。
仕上げ面
完成した溶接面を分析し、構造的完全性の 低下や電気抵抗の増加を示す可能性のある 欠陥をチェックする。
溶接検証 - IPGの違い
溶接プルームのような不完全な溶接品質指標を単にモニターするほとんどの溶接モニタリング技術とは異なり、LDDは溶接溶け込みの直接測定と3Dイメージングを行い、溶接ビームが見ているものを正確に確認します。
代替技術と比較して、LDDは以下を提供する:
- 完全溶け込み溶接の深さ測定と品質保証
- シングルモードレーザ溶接との互換性
- ロボットティーチングのための鍵穴の3Dイメージングとライブ3Dビューイング
- あらゆる方向への鍵穴アライメント
- 高速オンザフライ溶接との互換性
溶接の直接測定がROIを高める
LDDは溶接溶け込みを直接測定し、カスタマイズ可 能な合否条件に基づいて溶接が合格かどうかを正確に 判定する。フォトダイオード・モニタリングのような代替技術(
)は、溶接の噴出高さのような不正確な溶接測定に依存しているため、高い確率で不合格になることが多い。
)は、溶接の噴出高さのような不正確な溶接測定に依存しているため、高い確率で不合格になることが多い。
よりスマートなレーザ溶接
IPGレーザおよびビーム伝送とのシームレスな統合
LDD は、IPG ファイバーレーザ、プロセスヘッド、および溶接システムと簡単に統合できます。IPG OmniWELD ソフトウェアは、溶接プロセスを中断することなく、主要な溶接寸法を測定するために測定ビームを制御します。
各溶接プロセスに最適な測定パラメーターの組み合わせと合否判定基準は、簡単に設定でき、システム間で再現できます。
LDD-700 仕様
LDD-700 |
リアルタイム溶接測定 |
LDD-700 |
リアルタイム溶接測定 |
計測技術 |
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インライン・コヒーレント・イメージング |
溶接測定 |
20+ ウェルド・メトリクス |
イメージング波長 |
800~900 nm |
パワー |
<20 mW |
測定頻度 |
250 kHz |
ヘッドインターフェース互換性 |
ほぼすべての固定光学カメラポート |
冷却 |
空冷式 |
さらに詳しく |
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計測技術 | インライン・コヒーレント・イメージング | |||
溶接測定 | 20+ ウェルド・メトリクス | |||
イメージング波長 | 800~900 nm | |||
パワー | <20 mW | |||
測定頻度 | 250 kHz | |||
ヘッドインターフェース互換性 | ほぼすべての固定光学カメラポート | |||
冷却 | 空冷式 | |||
さらに詳しく |
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